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            首頁-產品系統-視覺測量儀-二次元影像測量儀-AE-100M白光干涉儀

            白光干涉儀

            訪問次數:1736

            簡要描述:白光干涉儀,結合光學顯微鏡與白光干涉功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點,可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領域包含:玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。

            • 廠家實力

              Manufacturer Strength
            • 有效保修

              Valid Warranty
            • 質量保障

              Quality Assurance

            詳細介紹

            品牌其他品牌價格區間面議
            產地類別國產應用領域電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,電氣

            白光干涉儀

            ● 納米深度3D檢測

            ● 高速、無接觸量

            ● 表面形狀、粗糙度分析
            ● 非透明、透明材質皆適用
            ● 非電子束、非雷射的安全量測
            ● 低維護成本

            專業級的3D圖形處理與分析軟體(Post Topo):
            ● 提供多功能又具友好界面的3D圖形處理與分析
            ● 提供自動表面平整化處理功能
            ● 提供高階標準片的軟件自校功能
            ● 深度、高度分析功能提供線性分析與區域分析等兩種方式
            ● 線性分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度(Roughness)與起伏度
            ● (waviness)的測量分析。可提供多達17種的ISO量測參數與4種額外量測數據(Wafer)
            ● 區域分析方式提供圖形分析與統計分析
            ● 具有平滑化、銳化與數字過濾波等多種二維快速利葉轉換(FFT)處理功能
            ● 量測分析結果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出

            白光干涉儀高速精密的干涉解析軟件(ImgScan)
            ● 系統硬件搭配ImgScan前處理軟件自動解析白光干涉條紋
            ● 垂直高度可達0.1nm
            ● 高速的分析算法則,讓你不在苦候測量結果
            ● 垂直掃描范圍的設定輕松又容易
            ● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇
            ● 平臺X、Y、Z位置數字式顯示,使檢測目標尋找快速又便利
            ● 具有手動/自動光強度調整功能以取得較佳的干涉條紋對比
            ● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇
            ● 具有解析算法則可處理半透明物體的3D形貌
            ● 具有自動補點功能
            ● 可自行設定掃描方向

            型號AE-100M
            移動臺(mm)平臺尺寸100*100 ,行程13*13
            物鏡放大倍率10X20X50X
            觀察與量測范圍(mm)0.43*0.320.21*0.160.088*0.066
            光學分辨力(μm)0.920.690.5
            收光角度(Degrees)172333
            工作距離7.44.73.4
            傳感器分辨率640*480像素
            機臺重量(kg)/載重kg20kg/小于1kg
            Z軸移動范圍45mm , 手動細調;可訂制150mm
            Z軸位置數字顯示器分辨力1μm
            傾斜調整平臺雙軸/手動調整
            高度測量
            測量范圍100(μm)(400μm ,選配)
            量測分辨力0.1nm
            重復精度≤ 0.1% (量測高度:>10μm)
            ≤10nm(量測高度1μm 10μm)
            ≤ 5nm(量測高度:<1μm )
            量測控制自動
            掃描速度(μm/s)12
            光源
            光源類型儀器用鹵素(冷)光源
            平均使用壽命1000小時100W 500小時(150W)
            光強度調整自動/手動
            數據處理與顯示用計算機
            中央處理運算屏幕雙核心以上CPU
            影像與數據顯示屏幕21" 雙晶屏幕
            操作系統Win7
            電源與環境要求AC100 --240 V 50-60Hz
            環境振動VC-C等級以上
            測量分析軟件
            量測軟件ImgScanImgScan測量軟件:具VSI/ PVSI/PSI 測量模式(PSI量測模式需另選配PSI模塊搭配)
            分析軟件PosTopoISO 粗燥度/階高分析,快速傳利葉轉換和濾波,多樣的2D和3D
            觀測視角圖,外形/面積/體積分析,圖像縮放、標準影像文件格式轉換
            報表輸出,程序教導測量等。

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